芯片阵列缺陷检测时如何消除芯片图案？

例如以上两个原图，期望将第一张图中的油污和第二张图中的划伤能够检测出来。限定方法需要用图像处理算法工具来消除芯片图案，留下缺陷。

尽量保留缺陷的完整的轮廓，不是只要检出即可。

两个图可以用不同的参数，和不同的算法工具。但，期望尽量只调参，不修改算法流程。