有些项目的缺陷检测需求，需要满足OK样本经常发生变化的情况，例如印刷品和半导体芯片。
应对这种情况，最简单的思路是，记录OK样本的图像作为模板，和新样本做减法，之后看哪些像素差异较大，进而识别为缺陷。
但，实际项目中，这个思路最大的问题是，容易因为OK样本之间本来就存在的差异，导致误检，所以经常需要解决这类误检问题。
2 Answers
1、模板匹配-图像对齐；
2、使用正常模板进行比较；
3、根据情况使用经过上、下、左、右偏移的模板进行比较；偏移的尺度根据实际样本间的存在的偏差进行调整。也可以对纹理进行膨胀后比较，同理，膨胀的尺度也是根据样本间的偏差。
4、所有模板做与。
